某離子實(shí)驗(yàn)裝置的基本原理如圖所示，Ⅰ區(qū)寬度為d₁，左邊界與x軸垂直交于坐標(biāo)原點(diǎn)O，其內(nèi)充滿沿y軸正方向的勻強(qiáng)電場(chǎng)，電場(chǎng)強(qiáng)度E=900N/C；Ⅱ區(qū)寬度為d₂，左邊界與x軸垂直交于O₁點(diǎn)，右邊界與x軸垂直交于O₂點(diǎn)，其內(nèi)充滿沿x軸負(fù)方向的勻強(qiáng)磁場(chǎng)，磁感應(yīng)強(qiáng)度B=1.5×10^-3T。足夠大的測(cè)試板垂直x軸置于Ⅱ區(qū)右邊界，其中心與O₂點(diǎn)重合，從離子源不斷飄出電荷量q=+4×10^-6C、質(zhì)量m=2×10^-14kg的正離子，經(jīng)加速區(qū)加速后沿x軸正方向過O點(diǎn)，依次經(jīng)Ⅰ區(qū)，Ⅱ區(qū)到達(dá)測(cè)試板，已知d₁=

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m,d₂=6.28m,離子從Ⅰ區(qū)飛出時(shí)的位置到O₁點(diǎn)的距離y=0.25m。忽略離子間的相互作用，不計(jì)離子的重力。求：
（1）加速區(qū)的電壓U；
（2）離子在Ⅱ區(qū)運(yùn)動(dòng)軌跡的長(zhǎng)度；
（3）離子打在測(cè)試板上的位置與O₂點(diǎn)的距離。