圖甲是用光的干涉法來檢查物體表面平整程度的裝置,其中A為標(biāo)準(zhǔn)平板,B為被檢查的物體,C為入射光,圖乙為觀察到的干涉條紋,下列說法正確的是( ?。?/h1>
【考點(diǎn)】用薄膜干涉檢查工件的平整度.
【答案】B
【解答】
【點(diǎn)評】
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發(fā)布:2024/4/20 14:35:0組卷:253引用:1難度:0.7
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