如圖所示ABLT-1A軸承壽命試驗(yàn)機(jī)，該試驗(yàn)機(jī)主要用于滾動(dòng)軸承疲勞快速試驗(yàn)，試驗(yàn)過程為：自動(dòng)穩(wěn)壓加載，試驗(yàn)軸承外圈溫度，試驗(yàn)時(shí)間自動(dòng)累計(jì)顯示，直到軸承疲勞剝落自動(dòng)停機(jī)，用計(jì)算機(jī)控制并將試驗(yàn)結(jié)果自動(dòng)打印、分析。該試驗(yàn)機(jī)采用的試驗(yàn)方法為（ ?。?/h1>
【考點(diǎn)】優(yōu)選試驗(yàn)法．
【答案】C
【解答】
【點(diǎn)評】
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發(fā)布：2025/1/2 14:0:2組卷：0引用：2難度：0.6
相似題
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1．如圖所示為某單位研究COVID-19新型冠狀病毒mRNA人用疫苗部分的流程。該流程中的試驗(yàn)方法有（ ?。?br />
①虛擬試驗(yàn)法
②優(yōu)選試驗(yàn)法
③模擬試驗(yàn)法
④強(qiáng)化試驗(yàn)法
⑤移植試驗(yàn)法發(fā)布：2025/1/2 15:30:1組卷：1引用：2難度：0.8 -
2．IC芯片的設(shè)計(jì)與制造中要進(jìn)行各種測試，如：計(jì)算機(jī)仿真測試、封裝測試、芯片可靠性測試（如：環(huán)境試驗(yàn)和壽命試驗(yàn)）等，這些測試中未涉及的試驗(yàn)方法（ ?。?/h2>發(fā)布：2025/1/2 13:0:2組卷：1引用：2難度：0.5 -
3．以下關(guān)于技術(shù)試驗(yàn)的說法不正確的是（ ?。?/h2>
發(fā)布：2024/11/27 0:0:1組卷：3引用：2難度：0.8