為了加快實(shí)現(xiàn)我國(guó)高水平科技自立自強(qiáng),某科技公司逐年加大高科技研發(fā)投入.圖1是該公司2013年至2022年的年份代碼x和年研發(fā)投入y(單位:億元)的散點(diǎn)圖,其中年份代碼1-10分別對(duì)應(yīng)年份2013-2022.
根據(jù)散點(diǎn)圖,分別用模型①y=bx+a,②y=c+dx作為年研發(fā)投入y關(guān)于年份代碼x的經(jīng)驗(yàn)回歸方程模型,并進(jìn)行殘差分析,得到圖2所示的殘差圖.結(jié)合數(shù)據(jù),計(jì)算得到如下表所示的一些統(tǒng)計(jì)量的值:
y
=
c
+
d
x
y |
t |
10 ∑ i = 1 ( x i - x ) 2 |
10 ∑ i = 1 ( t i - t ) 2 |
10 ∑ i = 1 ( y i - y ) ( x i - x ) |
10 ∑ i = 1 ( y i - y ) ( t i - t ) |
75 | 2.25 | 82.5 | 4.5 | 120 | 28.35 |
t
i
=
x
i
,
t
=
1
10
10
∑
i
=
1
t
i
(1)根據(jù)殘差圖,判斷模型①和模型②哪一個(gè)更適宜作為年研發(fā)投入y關(guān)于年份代碼x的經(jīng)驗(yàn)回歸方程模型?并說(shuō)明理由;
(2)根據(jù)(1)中所選模型,求出y關(guān)于x的經(jīng)驗(yàn)回歸方程,并預(yù)測(cè)該公司2028年的高科技研發(fā)投入.
附:對(duì)于一組數(shù)據(jù)(x1,y1),(x2,y2),?,(xn,yn),其經(jīng)驗(yàn)回歸直線
?
y
?
a
?
b
?
b
=
n
∑
i
=
1
(
x
i
-
x
)
(
y
i
-
y
)
n
∑
i
=
1
(
x
i
-
x
)
2
,
?
a
=
y
-
?
b
x
【考點(diǎn)】殘差及殘差圖.
【答案】見(jiàn)試題解答內(nèi)容
【解答】
【點(diǎn)評(píng)】
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發(fā)布:2024/6/27 8:0:9組卷:33引用:3難度:0.5
相似題
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1.下面給出了根據(jù)我國(guó)2016年-2022年水果人均占有量y(單位:kg)和年份代碼x繪制的散點(diǎn)圖和線性回歸方程的殘差圖(2016年-2022年的年份代碼x分別為1~7).
(1)根據(jù)散點(diǎn)圖分析y與x之間的相關(guān)關(guān)系;
(2)根據(jù)散點(diǎn)圖相應(yīng)數(shù)據(jù)計(jì)算得,7∑i=1yi=1074,求y關(guān)于x的線性回歸方程(數(shù)據(jù)精確到0.01);7∑i=1xiyi=4517
附:回歸方程中的斜率和截距的最小二乘法估計(jì)公式分別為?y=?bx+?a.?b=n∑i=1(xi-x)(yi-y)n∑i=1(xi-x)2,?a=y-?bx發(fā)布:2024/6/27 10:35:59組卷:151引用:2難度:0.4 -
2.經(jīng)驗(yàn)表明,樹(shù)高y與胸徑x具有線性關(guān)系,為了解回歸方程的擬合效果,利用下列數(shù)據(jù)計(jì)算殘差,用來(lái)繪制殘差圖.則殘差的最大值和最小值分別是( ?。?br />
胸徑x/cm 18.2 19.1 22.3 24.5 26.2 樹(shù)高的觀測(cè)值y/m 18.9 19.4 20.8 22.8 24.8 樹(shù)高的預(yù)測(cè)值 ?y/m18.6 19.3 21.5 23.0 24.4 發(fā)布:2024/11/3 17:0:1組卷:107引用:1難度:0.7 -
3.觀察下列四幅殘差圖,滿足一元線性回歸模型中對(duì)隨機(jī)誤差的假定的是( ?。?/h2>
發(fā)布:2024/6/29 8:0:10組卷:203引用:5難度:0.8
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